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上海东时贸易有限公司回收各种进口二手仪器仪表 检测仪器 网络分析仪 示波器 废旧仪器 工厂淘汰闲置仪器 研究所实验室更新仪器
主要回收品牌:Agilen安捷伦, Tektronix泰克, Anritsu安立, Litepoint美国, Spiren博世伦, ABO日本, KEITHILEY吉时利, YOKOGAWA横河, KENWOOD建伍, KIKUSUI掬水,HAMEG惠美, , IWATSU岩崎, FULK福禄克, LeCay力科, konica minolta美能达, Nitsuki, RIGOL普源,PRODIGIT博计,MARCONI马可尼, Kyoritsu共立, SANWA三和, CON普康, RION理音, GRAPHTEC日图, COSMOS新宇宙, ONOSOKKI小野, ARON安罗, TEXIO德士, EXTECH华仪, Anite安耐特, Maynuo美而诺, KEISOKU GIREN,计测 Kaise凯世, LEADER力达,Mitutoyo三丰…
主要回收类别:电源表,示波器,,触摸屏,plc,服务器,硬盘,万用表,功率计,频率计,综合测试仪,数据采集仪,滤波器,激光源,光衰减器,涟漪计,欧姆计,频谱分析仪,网络分析仪,三次元,硬度计,信号发生器,误码分析仪,蓝牙测试仪,显微镜,型号板卡,GPIB卡,探头,等各式进口二手仪器仪表
Agilent E8364B PNA 系列网络分析仪, 10 MHz 至 50 GHz
主要特性与技术指标
104 dB 的范围,<0.006 dB 的迹线噪声
<26 微秒/点的测量速度,32 个通道,16,001 点
的晶片上、夹具内、波导和天线测量的 TRM/LRM 校准
混频器转换损耗、回波损耗、隔离和群延迟
放大器增益压缩、谐波、IMD 和脉冲射频
描述
通过可选的软件和/或硬件进行通用网络分析来定制您的应用 ― 例如多端口、脉冲射频等应用。
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Agilent N3381A RF网络分析仪,300 kHz 至 3 GHz
描述
Keysight N3381A矢量网络分析仪是PNA系列网络分析仪平台的成员,它为当前有严格要求的高性能元件测试提供所需要的速度和精度。 通过提供快扫频速度、宽范围、低轨迹噪声和灵活连接的组合,PNA系列能够应对这样的测试挑战。
N3381A是三端口网络分析仪,能为客户提供许多可选的能力,使该分析仪能够满足您的应用要求。全三端口误差校正保证了优异的测试精度。
强大的自动测试能力和自助工具使该仪器能完全适应研制开发和生产制造的需要。PNA系列分析仪有16个独立的测量通道,内装的硬盘驱动器,并且提供一个标。
300 kHz 至 3 GHz
测试端口上具有128 dB 的范围
143 dB 范围,具有直接接入
每点35 μs的扫频速度
USB 控制的电校准 (Ecal)
COM/DCOM 和 SCPI 编程
可选源衰减器、直接和源接入
Windows 2000 操作系统
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Agilent 8753D 网络分析仪, 30 kHz 至 3 GHz
主要特性与技术指标
内置S-参数测试仪
可选时域和扫描谐波测量
具有频率偏置功能的混频器测试
可选步进衰减器
可用于全部正向和反向测量的内装S-参数测试装置,使您能通过一次连接全面评测元件
优异的精度,经过全面的校准
可选时域和扫描谐波测量
用频率偏置能力作混频器测试
可选步进衰减器,以扩展源输出功率范围
通过/失败测试,内插误差校正,测试序列和用户定义测试频率,以提高生产能力
2个独立的显示通道,以同时测量反射和传输特性
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N5230C PNA-L矢量网络分析仪
产品名称:PNA-L矢量网络分析仪
产品型号:N5230C
产品规格:10 MHz - 20 GHz (选项220/225)
供应商名:agilent
附 件:校准件、平转N头、说明书、电源线
主要技术指标
N5230C 108 dB的动态范围,<0.006 dB迹线噪声
N5230C <9微秒/点的测量速度,32个通道,16,001点
N5230C 支持TRL/LRM校准、晶片上、夹具内和波导测量
N5230C描述
安捷伦PNA-L矢量网络分析仪隶属于PNA系列网络分析仪平台,是为满足通用网络分析需求而设计的。其的功能可以帮助您*、简便、地完成工作。
N5230C 108 dB的动态范围及0.004 dB的轨迹噪声
N5230C <4.5 μs/点的测量速度,32条测量通道,每条通道多16,001点
N5230C 支持TRM/LRM校准,提供的晶片、夹具和波导测量
3.5 (插入式) 连接件
N5230C PNA-L是一款4端口、20GHz矢量网络分析仪。该仪器可用于测量多端口平衡元件,如滤波器、双工器和RF模块等。Agilent N5230C PNA-L网络分析仪配有选件240/245,有助于无线通讯、WLAN、信号完整性、和*领域的射频和微波快速了解元件的特性,显著降低测试成本和提高工作效率
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