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DeltaScan模拟结测试技术
DeltaScan利用几乎所有数字器件管脚和绝大多数混合信号器件引脚都有的静电放电保护或寄生二管，对被测器件的立引脚对进行简单的直流电流测试。当某块板的电源被切断后，器件上任何两个管脚的等效电路如下图中所示。
1 在管脚A加一对地的负电压，电流Ia流过管脚A之正向偏压二管。测量流过管脚A的电流Ia。
2 保持管脚A的电压，在管脚B加一较高负电压，电流Ib流过管脚B之正向偏压二管。由于从管脚A和管脚B至接地之共同基片电阻内的电流分享，电流Ia会减少。
3 再次测量流过管脚A的电流Ia。如果当电压被加到管脚B时Ia没有变化（delta），则一定存在连接问题。
DeltaScan软件综合从该器件上许多可能的管脚对得到的测试结果，从而得出的故障诊断。信号管脚、电源和接地管脚、基片都参与DeltaScan测试，这就意味着除管脚脱开之外，DeltaScan也可以检测出器件缺失、插反、焊线脱开等制造故障。
GenRad类式的测试称Junction Xpress。其同样利用IC内的二管特性，只是测试是通过测量二管的频谱特性（二次谐波）来实现的。
DeltaScan技术不需附加夹具硬件，成为推技术。

相关比较
人工检查 AOI检查
pcb<18*20 几千个pad以下
人 重要 检查
时间 正常 正常
持续性 因人而异 （差） 好
可靠性 因人而异 （差） 较好
准确性 因人而异 误点率高
时间 长 短
与或非（AND OR INVERT）
一种常用逻辑运算
实施目标
实施AOI有以下两类主要的目标：
终品质
对产品走下生产线时的终状态进行。当生产问题非常清楚、产品混合度高、数量和速度为关键因素的时候，**采用这个目标。AOI通常放置在生产线末端。在这个位置，设备可以产生范围广泛的过程控制信息。
过程跟踪
使用检查设备来监视生产过程。典型地包括详细的缺陷分类和元件贴放偏移信息。当产品可靠性很重要、低混合度的大批量制造、和元件供应稳定时，制造商**采用这个目标。这经常要求把检查设备放置到生产线上的几个位置，在线地具体生产状况，并为生产工艺的调整提供必要的依据。
放置位置
虽然AOI可用于生产线上的多个位置，各个位置可检测缺陷，但AOI检查设备应放到一个可以尽早识别和改正多缺陷的位置。有三个检查位置是主要的：

简单介绍：
Samsung三星贴片机SM481 是在高速贴片机SM471的平台基础上针对VISION系统进行强化的同级设备中速度*快的设备，它配有1个悬臂10个轴杆，新型飞行相机及适用了*优化的吸料/贴装动作，从而实现了同级产品中世界*快速度39,000CPH。
详情介绍：
Samsung三星贴片机SM481
SM481 是在高速贴片机SM471的平台基础上针对VISION系统进行强化的同级设备中速度*快的设备，它配有1个悬臂10个轴杆，新型飞行相机及适用了*优化的吸料/贴装动作，从而实现了同级产品中世界*快速度39,000CPH。
Samsung三星贴片机SM481另可对应*小0402元器件到*大□42mm IC，并且通过适用电动供料器，提高了实际生产性及贴装品质。其可与SM气动供料器共用*原SM3/SM4系列供料器，因此将为老客户使用更多的便利性，
同时节省配送料器的配置（*新电动供料器可否得*高精度与快速的反应速度，提升品质及产能）
定位：飞行相机+固定相机（选配）
贴装轴杆数：10轴杆x1悬臂
贴装速度：39,000 CPH(*优条件)
对应元器件:
0402 ~ □42mm(H 15mm)
PCB尺寸（mm）:
460(L) x 400(W) 510(L) x 460(W)（选项）
610(L) x 510(W)（选项）740(L) x 460(W)（选项）
PCB厚度：0.38-4.2mm
供料器数量(8mm基准)：120ea/112ea
能耗：
电源 AC200/208/220/240/380/415V(50/60HZ,3Phase)
Max.4.7kva
耗气量 0.5-0.7MPa（5-7kgf/cm2） 160N/min
外形尺寸：1,650(L) x 1,680(D) x 1,530(H)
重量：约1655kg
高速.高精度电动供料器
吸料位置自动整列功能
SM气动供料器可共用
New真空系统及吸料/贴装模式进行*优化
SMART Feeder
**自动接料，自动送料

边界扫描技术解决了无法增加测试点的困难，更重要的是它提供了一种简单而且快捷地产生测试图形的方法，利用软件工具可以将BSDL文件转换成测试图形，如Teradyne的Victory，GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder。解决编写复杂测试库的困难。
用TAP访问口还可实现对如CPLD、FPGA、Flash Memroy的在线编程（In-System Program或On Board Program）。
设计技术
Nand-Tree
Nand-Tree是Intel公司发明的一种可测性设计技术。在我司产品中，现只发现82371芯片内此设计。描述其设计结构的有一一般程*.TR2的文件，我们可将此文件转换成测试向量。
ICT测试要做到故障定位准、测试稳定，与电路和PCB设计有很大关系。原则上我们要求每一个电路网络点都有测试点。电路设计要做到各个器件的状态进行隔离后，可互不影响。对边界扫描、Nand-Tree的设计要安装可测性要求。
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